半导体自动测试设备(ATE)是半导体制造过程中不可或缺的重要设备之一，用于确保半导体芯片的质量和可靠性。高效的自动化测试开发可以将高质量低成本的芯片产品快速导入市场，有效的量产测试运营优化也能进一步降低测试成本，提升整个产品良率性能。在此背景下，驿天诺推出了芯片全自动化测试解决方案。

方案介绍

芯片全自动化测试解决方案，使用驿天诺集成硬件、自研软件搭配视觉系统，实现芯片高低温场景全自动化测试，中间过程无需人工参与，大幅提高测试效率及精确度，进一步为客户降本增效。

测试场景示意图


机台外观图

设备整个流程全部自动化，包括实现芯片盒或蓝膜全自动上下料、自动扎针加电、自动耦合、生成测试数据以及根据测试结果对芯片进行分选；减少对人工依赖性，节约人力成本并大幅降低误操作率。

方案优势

• 相较于传统的手动测试，芯片全自动化测试不需要人工参与，极大地提高了测试速度和效率。

• 全自动化测试可以提高测试准确性和可靠性。自动化测试可以根据预设的测试脚本和参数，对芯片参数进行全面的测试和评估，减少测试过程中的人为错误和遗漏。

• 通过测试结果数据库建立及自动分析，发现潜在的问题和缺陷，从而对产品工艺及时进行调整和优化，降低后期封测成本。

• 根据测试结果自动分选，确保产品功能、性能和稳定性等关键指标符合要求，提高产品品质及可靠性。

芯片全自动化测试方案，以精准解决用户痛点为核心，致力于提高生产效能，实现智能制造。