产品能力再定义：
表面微粒检测仪（SPD）测量和控制表面微粒污染的---使得其变得更好。新一代的表面微粒检测仪涵盖了我们核心的表面测量技术能够分辨0.1微米的微粒并且大大增加了当今在洁净室中的使用。
随着高科技产业开始倾向于越来越小的几何体，工作更快，分辨率更高，产品更加复合化，表面微粒等级控制在0.1微米范围内，成为了产量和过程控制中的关键。
优点：
可预见的，每次的仪器*恢复。
减少25-50%的恢复时间
减少50%+的颗粒数
减少干燥处理及晶圆测试
减少泵的清洗周期
提升MTBC至4X或者更多
提升10%+的工具可用性
减少PM周期时间
减少故障事件
符合ISO-14644-9表面粒子规范
新型QIII ULTAR SPD 包括：
HeNe激光光学0.1微米的分辨率
采用新型的静态采样模式提高测量精度
新型7寸高分辨率（WVGA）屏幕，显示清晰的图像和文字。
新式取样头插座设计，取样头更换，更轻易，便利
双电池插槽设计，可热抽换，新式智慧型锂电池设计
收集的资料现在可以被很容易的通过USB下载
通过USB接口，软件可直接被用户升级
6个粒径通道，增强粒子的区分的可视性
*时间PM自净
如何测量过程室的洁净度在PM期间？SPD可以大大减少PM自净时间，green-to-green时间，并且提高了fab的吞吐量，通过使用QIII SPD，你能直接的测量物体表面精确的0.1微米的微粒。用QIII SPD开始清洁的结果是，*时间复原所有尺寸的粒子个数，让经过处理过的工具有明显的效果。
绿色-到-绿色 时间？（所有PM时间，包括了自净时间）
降低了50%的自净时间
保持低的green-to-green时间
QIII SPD 按PM实施
MTBC增长
通过结合QIII SPD在PM进程中粒子控制，MTBC可以增长。
举例1.1：300mm介质工具
MTBC pre-QIII SPD: 174 rf hrs
MTBC post-QIII SPD: 300 rf hrs
ROI:3.6个月
举例2.
举例1.2：300mm金属工具
MTBC pre-QIII SPD: 40 rf hrs
MTBC post-QIII SPD: 110 rf hrs
ROI:0.6个月
产品技术资料
尺寸(DxH)：14X23X9
重量：38 lbs
显示屏：WVGA 7寸触摸屏
GUI：Windows CE
传感器：HeNe 敏感达到0.1微米
输出：USB或者以太网
电源：100-240VAC,50/60HZ
电池：锂电池，可选电池充电器
探头的选择：
标准：1/2 直角，2 平角
查看探头说明书里的选项
可根据要求定制
