CL-BM500物体表面洁净度分析系统，搭载中国专利技术开发公司官网授权的高精度颗粒测量解决方案。该系统配备自动计算单个颗粒面积、宽度和内切圆等尺寸的功能，支持中英文双语操作界面，并提供详尽的用户手册。软件能够智能拼接扫描图像，存储整张滤膜扫描数据，并允许用户随时检索并重新分析或导出报告。设备配备第三方校准的显微标准比例尺，可识别三种类型杂质，并按照ISO16232标准对金属和非金属颗粒进行分类。
供货内容包括连续变倍显微镜主机、通用滤膜托架、第三方认证颗粒标准校验证书以及其他关键部件，如LED环形光源、物镜、目镜防尘罩和扫描台等。
系统参数说明了电压为100-240V，功率为500W，安装条件要求桌面空间160*70cm且稳定无晃动。设备总重量约20KG，适宜实验室环境，无油灰尘且温度范围15-35摄氏度。
安全环保要求确保符合相关法律法规，同时提供完备的质量保证和技术服务包裹，一份操作说明书及软件备份，以及现场培训服务。此外，为保障使用体验，该设备享有24个月保修期，以确保在出现问题时能快速响应并提供维修方案。
清洁度检测流程包含准备步骤如提取过滤称重，然后是检测调查步骤如复审结果展示。在原理上，该系统基于偏振光分析技术，可以区分反光金属与非金属颗粒，对于细长纤维则计算其长度以评估清洁程度。
附件参数详述了放大倍数可达6.4X至80X，可拓展至3.5X—400X；变倍比为1:12.5；目镜视野广阔且具调节功能；观察头采用三通设计，可选择100%双目或50%：50%三目模式；变倍镜筒内置孔径光阑，便于多种应用需求。此外，还包括平板底座用于色温调节显示功能，以及荧光系统装置用于特定波段捕捉细节最后成像处理系统采用高分辨率SONY CCD芯片保证图像质量。
