激光粒度探测器中国专利查询系统入口免费精确分析物体表面洁净度

CL-BM500物体表面洁净度分析仪,通过中国专利查询系统入口免费,提供一款高效的颗粒测量设备。该系统配备了自动计算单个颗粒面积、宽度和内切圆等尺寸的功能,并支持中英文双语操作界面和详尽用户手册。

其软件能够自动拼接扫描图像,并存储整张滤膜的扫描数据。已保存的图像可以随时调用进行进一步分析、存储以及导出为office报告。报告模板允许用户根据需要设定颗粒等级。此外,系统还能手动修改扫描结果,对任意形状的颗粒进行分割或关联。

该设备配有第三方校验认证的大型显微标准比例尺,可以准确识别并分类三种类型的杂质:金属颗粒、非金属颗粒和纤维。此外,它还能根据ISO16232对金属和非金属颗粒进行长度等级划分,并计算铝膜上的纤维总长度。

此外,该系统搭载了滤膜专用托架,无需重新定位即可直接扫描。供应内容包括连续变倍显微镜主机、一套通用滤膜托架、三方认证的标准校验证书、一块标准测微尺、一套光源、一组光源照明、一副2X物镜、二副目镜以及防尘罩。

安装要求包括桌面的大小与稳定性,以及工作环境温度范围15-35摄氏度,无冷凝水。而安全环保要求则是满足相关法律法规。在质量保证方面,该型号设备将提供操作说明书及完备软件备份,包含现场培训后技术咨询服务,以及24个月保修期内免费维修服务。

清洁度检测流程基于偏振光分析系统,可以识别反光金属及不反光非金属颗粒,对于细长材料则会计算其纤维长度。附件参数包括放大倍数可从6.4X到80X,可拓展至3.5X—400X;变倍比为1:12.5;两种目镜视野广阔且可调节;观察头采用三通设计,可选择100%双目或50%:50%三目的两档模式;变倍镜筒带有主要倍率刻度指示,每次跳转一个固定值;底座具有色温调节功能,而环形照明LED灯源颜色温度可调在5000-5500K之间。此外,还配备了一套荧光滤色片组以及高性能成像处理系统,为精确测量提供坚实保障。